清(qing)潔度測定方(fang)法對過程控制、*和失效(xiao)分析非常(chang)重要，是概括用于(yu)獲得(de)有(you)關測定主體(ti)如各種機械(xie)設備(bei)、電子零件等清(qing)潔度數據的詳(xiang)細過程。

檢(jian)測清(qing)潔(jie)(jie)度時對取(qu)樣(yang)(yang)(yang)有要求，取(qu)樣(yang)(yang)(yang)的(de)基本要求決定于樣(yang)(yang)(yang)品的(de)數(shu)量和(he)取(qu)樣(yang)(yang)(yang)位置。零(ling)件(jian)體積越(yue)大、表面積越(yue)大、清(qing)潔(jie)(jie)度偏低，則樣(yang)(yang)(yang)品數(shu)量相(xiang)應(ying)減少。應(ying)該從生產(chan)中隨機抽取(qu)零(ling)件(jian)，并且采(cai)樣(yang)(yang)(yang)過程(cheng)和(he)后面的(de)檢(jian)查(cha)過程(cheng)中不能造成零(ling)件(jian)的(de)污染。檢(jian)測清(qing)潔(jie)(jie)度時，一要環境清(qing)潔(jie)(jie)，其清(qing)潔(jie)(jie)程(cheng)度應(ying)與檢(jian)測的(de)要求相(xiang)適(shi)應(ying)；二(er)要檢(jian)測人員的(de)衣帽和(he)雙手清(qing)潔(jie)(jie)；三(san)要所用(yong)器具也(ye)必(bi)須清(qing)潔(jie)(jie)。

目前，在我國航空航天(tian)部(bu)(bu)、機械部(bu)(bu)、鐵道(dao)部(bu)(bu)等已報批核準的(de)(de)行業標準及(ji)具(ju)體要求的(de)(de)是常用(yong)的(de)(de)配對稱重法(fa)。

清(qing)潔度的測(ce)定方法(fa)很多，主要有如下幾種：

1.目(mu)視檢查法

目視(shi)檢(jian)(jian)查法即由人(ren)工直(zhi)接用眼睛在顯微鏡下(xia)對零件(jian)可以看到的(de)外(wai)表(biao)面或內(nei)腔表(biao)面進(jin)行檢(jian)(jian)查。調節(jie)顯微鏡的(de)照明亮(liang)度和(he)放大(da)倍數，人(ren)工可以判斷污(wu)染顆粒是金(jin)屬(shu)、非金(jin)屬(shu)、或纖維以及尺(chi)寸大(da)小。目測法可以檢(jian)(jian)查殘留在零件(jian)表(biao)面的(de)比較大(da)而明顯的(de)顆粒、斑點(dian)、銹斑等污(wu)染，但檢(jian)(jian)查的(de)結(jie)果與人(ren)為的(de)因(yin)素關系很大(da)。

2.稱(cheng)重法

稱(cheng)重法(fa)是工業生產和試驗(yan)中常用的(de)清(qing)潔(jie)度測定(ding)方法(fa)。其測定(ding)原(yuan)理是將一(yi)定(ding)數量(liang)的(de)試樣在一(yi)定(ding)的(de)條件下進(jin)行清(qing)洗(xi)，然后將清(qing)洗(xi)的(de)液體(ti)通過(guo)濾(lv)(lv)膜充(chong)分過(guo)濾(lv)(lv)，污(wu)物(wu)被收(shou)集在經過(guo)干(gan)燥的(de)濾(lv)(lv)膜表面(mian)，將濾(lv)(lv)膜再次充(chong)分干(gan)燥，根據分析天平稱(cheng)出過(guo)濾(lv)(lv)清(qing)洗(xi)前(qian)后干(gan)燥的(de)濾(lv)(lv)膜質(zhi)量(liang)，計算其增(zeng)加值即(ji)為(wei)試樣品(pin)上的(de)固體(ti)顆粒污(wu)染物(wu)的(de)質(zhi)量(liang)。

3.接觸角法

所(suo)(suo)謂接(jie)觸(chu)角，就是(shi)液體(ti)(ti)(ti)在固體(ti)(ti)(ti)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)形成(cheng)熱(re)力學(xue)平衡時所(suo)(suo)持有的(de)角。對固體(ti)(ti)(ti)和(he)液體(ti)(ti)(ti)之(zhi)間形成(cheng)的(de)接(jie)觸(chu)角的(de)測(ce)量，是(shi)在表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)處理(li)及(ji)聚(ju)合體(ti)(ti)(ti)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)分析等(deng)眾多(duo)類似領域廣為知曉的(de)分析技術(shu)，是(shi)對多(duo)個(ge)單位(wei)的(de)單層變(bian)化十分敏感的(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)分析技術(shu)。測(ce)量液滴(di)在固體(ti)(ti)(ti)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)接(jie)觸(chu)角來評估表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)可濕潤特性(xing)。如果液滴(di)可濕潤表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)，則(ze)接(jie)觸(chu)角小，反(fan)之(zhi)液滴(di)不能濕潤表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)，而(er)在表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)傾(qing)向于(yu)形成(cheng)圓珠(zhu)或氣泡，則(ze)接(jie)觸(chu)角大(da)。這(zhe)(zhe)就是(shi)“水(shui)膜殘跡"測(ce)試(shi)(shi)的(de)原理(li)。接(jie)觸(chu)角大(da)，表(biao)(biao)示(shi)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)被憎(zeng)水(shui)性(xing)的(de)污(wu)物（油(you) / 脂等(deng)）污(wu)染，反(fan)之(zhi)，接(jie)觸(chu)角小，液滴(di)破裂或攤薄，表(biao)(biao)示(shi)該表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)清潔(jie)。這(zhe)(zhe)種測(ce)試(shi)(shi)方法受(shou)人為因素影響也(ye)(ye)很(hen)大(da)，而(er)且這(zhe)(zhe)種方法對非常輕小或分散(san)的(de)污(wu)物不易識別。尤其是(shi)有些特殊材料（如 PTFE 塑料）即使表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)很(hen)清潔(jie)，對大(da)多(duo)數液體(ti)(ti)(ti)的(de)接(jie)觸(chu)角也(ye)(ye)很(hen)大(da)。所(suo)(suo)以(yi)，接(jie)觸(chu)角法不適合對某些關(guan)鍵重要的(de)表(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)(mian)清潔(jie)度測(ce)試(shi)(shi)。

4.熒光發光法

在(zai)許(xu)多情(qing)況下(xia)，可(ke)以(yi)(yi)利用(yong)紫(zi)外(wai)(wai)線來檢(jian)測零(ling)件表面的(de)清潔度(du)。在(zai)紫(zi)外(wai)(wai)線的(de)照(zhao)射(she)下(xia)，表面的(de)污染物(wu)顆粒會(hui)發出熒(ying)(ying)光(guang)。因(yin)為紫(zi)外(wai)(wai)線的(de)能量被污物(wu)吸收(shou)，污物(wu)顆粒電(dian)(dian)子(zi)(zi)被激化(hua)并躍進到高能級的(de)電(dian)(dian)子(zi)(zi)層(ceng)(ceng)，處于高能級的(de)不穩(wen)定(ding)的(de)電(dian)(dian)子(zi)(zi)隨即會(hui)返回原(yuan)低(di)能級電(dian)(dian)子(zi)(zi)層(ceng)(ceng)，在(zai)此過程中原(yuan)來吸收(shou)的(de)能量以(yi)(yi)發熱發光(guang)的(de)形式釋放(fang)(fang)出來——熒(ying)(ying)光(guang)。這(zhe)種激活釋放(fang)(fang)的(de)頻率達每秒(miao)幾千(qian)次，所以(yi)(yi)在(zai)紫(zi)外(wai)(wai)線下(xia)的(de)熒(ying)(ying)光(guang)不是(shi)閃爍的(de)而(er)是(shi)持續穩(wen)定(ding)的(de)，根據發熒(ying)(ying)光(guang)即可(ke)目測污物(wu)在(zai)零(ling)件表面的(de)位置，熒(ying)(ying)光(guang)強(qiang)度(du)也是(shi)可(ke)以(yi)(yi)應用(yong)信(xin)號檢(jian)測儀器測定(ding)從(cong)而(er)表示(shi)表面被污染的(de)程度(du)。但(dan)如(ru)果(guo)要識別污染物(wu)的(de)成(cheng)分(fen)(fen)等特性，必須借助其他分(fen)(fen)析法。

5.顆粒尺寸(cun)數(shu)量法

這是(shi)一種(zhong)零(ling)件清(qing)潔(jie)度測(ce)定(ding)(ding)的(de)新方(fang)法。其基本(ben)原(yuan)理是(shi)根據被(bei)檢(jian)測(ce)的(de)表面與污染物(wu)(wu)顆(ke)粒具有(you)不同(tong)的(de)光吸收(shou)或散射率(lv)。其測(ce)試方(fang)法是(shi)，將一定(ding)(ding)數(shu)量(liang)的(de)零(ling)件在一定(ding)(ding)的(de)條件下清(qing)洗(xi)(xi)，將清(qing)洗(xi)(xi)液通過的(de)濾(lv)膜(mo)(mo)充分(fen)過濾(lv)，污物(wu)(wu)被(bei)收(shou)集(ji)在濾(lv)膜(mo)(mo)表面，然后將濾(lv)膜(mo)(mo)干燥，用(yong)顯(xian)微(wei)鏡（*設(she)備(bei)是(shi)具有(you)拍攝功能(neng)的(de)圖像識別和(he)(he)分(fen)析設(she)備(bei)）在光照射下檢(jian)測(ce)，按顆(ke)粒尺寸和(he)(he)數(shu)量(liang)統計污物(wu)(wu)顆(ke)粒，即可得到所測(ce)物(wu)(wu)體零(ling)件的(de)固體顆(ke)粒污染物(wu)(wu)結果(guo)。這是(shi)一種(zhong)適合精(jing)密清(qing)洗(xi)(xi)定(ding)(ding)量(liang)化的(de)清(qing)潔(jie)度檢(jian)測(ce)方(fang)法，尤其使(shi)用(yong)于檢(jian)測(ce)微(wei)小顆(ke)粒和(he)(he)帶(dai)色雜質顆(ke)粒。但是(shi)如(ru)果(guo)濾(lv)膜(mo)(mo)是(shi)白色的(de)，那么對白色污物(wu)(wu)和(he)(he)氣泡的(de)識別就有(you)可能(neng)引起誤判。

顆粒(li)尺寸數(shu)量法極限值：對特定(ding)(ding)規格的(de)零件(jian)，規定(ding)(ding)一定(ding)(ding)樣(yang)品數(shu)量、檢查(cha)頻率、清(qing)洗(xi)介(jie)質、清(qing)洗(xi)參數(shu)和操作(zuo)過程的(de)情況(kuang)下，將顆粒(li)按尺寸大(da)小統計，每個尺寸范圍分別規定(ding)(ding)準許的(de)最 大(da)顆粒(li)數(shu)量，只要有某一項超標，則測試結論為不(bu)合格。

6.重量法

重量法是(shi)工業生產和試驗中(zhong)常用的(de)(de)(de)清潔(jie)度測定(ding)方法。其測定(ding)原理(li)是將一定(ding)數量(liang)的(de)(de)(de)試樣(yang)在一定(ding)的(de)(de)(de)條(tiao)件(jian)下進行清洗，然后(hou)將清洗的(de)(de)(de)液體通過(guo)(guo)濾膜(mo)(mo)充分(fen)過(guo)(guo)濾，污(wu)物(wu)被收集在經(jing)過(guo)(guo)干(gan)燥的(de)(de)(de)濾膜(mo)(mo)表面，將濾膜(mo)(mo)再次(ci)充分(fen)干(gan)燥，根據分(fen)析天平稱出過(guo)(guo)濾清洗前后(hou)干(gan)燥的(de)(de)(de)濾膜(mo)(mo)質量(liang)，計算其增加(jia)值即為試樣(yang)品上(shang)的(de)(de)(de)固體顆粒(li)污(wu)染物(wu)的(de)(de)(de)質量(liang)。

重量法典型限值：對(dui)特定(ding)規格的零件，規定(ding)一定(ding)樣品數量、檢查頻(pin)率、清(qing)洗(xi)介質、清(qing)洗(xi)和過濾方法的情況下(xia)準許的最 大(da)殘(can)留污物的重量，單位為mg或ug。