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關于光學分析(xi)法的金屬顆粒分析(xi)

發布日(ri)期: 2022-10-18
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設(she)備介紹

1、AOLL100A自動清潔(jie)度(du)分析系統 — —智能掃(sao)描(miao)型

術參數

AOLL 100A 自動清潔度分析系(xi)統描(miao)述

l  一鍵(jian)式操作(zuo)

一(yi)鍵式檢測(ce)操作,使復雜(za)的檢測(ce)流程簡(jian)單(dan)化,檢測(ce)人員易上手,智(zhi)能(neng)化檢測(ce)。上手簡(jian)單(dan),易學習,對于未接觸過清潔度檢測(ce)的操作人員也能(neng)很快掌握。

 

自動(dong)拍照/無(wu)縫拼(pin)接(jie)/先進圖像(xiang)矯正(zheng)技術/*圖像(xiang)預覽

采用核(he)心無(wu)縫拼圖技術,保證邊(bian)緣圖像(xiang)無(wu)陰影暗角,功(gong)能,超越進口設(she)備(bei)拼接效果(guo)。

圖像無縮放(fang)(fang),1:1放(fang)(fang)大(da)顯示(shi)(業(ye)內),肉眼可(ke)見拼接效果,細微處(chu)見真章。

  l  人工復核

污(wu)染物(wu)顆粒在(zai)濾膜表(biao)面分(fen)散呈現不同狀態(tai),往(wang)往(wang)會有交集及疊(die)加顆粒出現,軟件無法(fa)識(shi)別,出報告前需對關(guan)注目標顆粒進一步復核,本系(xi)統支持顆粒修改及屬性修改,讓數據更準確。

l  自定義標準

內置ISO16232/VDA19/顆粒校準片標準,用戶可以根據需要加入不同(tong)的(de)分析(xi)標準,或選擇已(yi)有標準進行(xing)分析(xi)。軟(ruan)件支持現行(xing)多(duo)種標準進行(xing)分析(xi)。金屬、非金屬、纖維區(qu)分,按照ISO16232/VDA19等國(guo)際標準統計分析(xi),同(tong)時支持用戶自(zi)定標準。

對目標顆粒ID回溯功能

進一(yi)步(bu)測量,判斷顆粒屬性,使數據更可(ke)靠

l  高度測量模塊

回看定位到(dao)到(dao)需要高(gao)度檢測(ce)顆粒(li),選取(qu)兩個基準面,輕(qing)松測(ce)量顆粒(li)高(gao)度

 l   顆粒算(suan)法

系統分析標準中包含多(duo)種顆粒尺寸(cun)定義,結合圖像(xiang)算法,滿足不(bu)同客戶不(bu)同標準對顆粒的不(bu)同分析要求。

 l  顆粒屬性自動(dong)檢測(ce)

軟件(jian)掃描完成后,出具(ju)顆(ke)粒列表,自(zi)動識別金(jin)屬(shu)顆(ke)粒,非金(jin)屬(shu)顆(ke)粒,纖維(wei)。

金屬(shu)顆粒:在偏振(zhen)光照明(ming)模式下(xia),顏色(se)會消失,呈(cheng)現黑色(se)狀態;在明(ming)場照明(ming)模式下(xia),呈(cheng)現亮色(se)金屬(shu)光澤;

非金屬顆粒(li):在(zai)偏振光以(yi)及明場(chang)照(zhao)明模(mo)式下(xia),顏色不變;

纖維:非金屬(shu)、拉伸長度/最(zui)大內(nei)切(qie)圓直(zhi)徑(jing)>20 、通過最(zui)大內(nei)切(qie)圓測量的寬度≤50 微米

 l  工(gong)件信(xin)息設置

支(zhi)持(chi)零(ling)件(jian)編號,萃取信息/濾膜參數/產品數量(liang)(liang)/污染物(wu)重量(liang)(liang)/清洗時間等參數信息新建和調用。

    顆粒(li)校準塊

在標(biao)準(zhun)(zhun)47mm圓內劃分4個象限(xian)(xian),總計(ji)80顆(ke),每個象限(xian)(xian)顆(ke)粒數量(liang)都是(shi)相等的。用軟件掃描校準(zhun)(zhun)塊(kuai)(kuai)看系統是(shi)否(fou)能夠識別標(biao)準(zhun)(zhun)塊(kuai)(kuai)里面的顆(ke)粒數量(liang)以及(ji)尺(chi)寸(cun)。提供第三方(fang)檢測報告,數據真實有效,結(jie)果可以追溯(su)。

              ;                                                                                數據庫管理

常(chang)規分析系統(tong)只有顆(ke)粒數據及MAP圖儲存(cun),無法(fa)數據統(tong)計(ji)。

本系統增加(jia)了SQL數據(ju)庫統計功能,可(ke)選擇任意時(shi)間(jian)段查看并(bing)調出(chu)最大金屬顆(ke)粒、任意顆(ke)粒尺寸范(fan)圍數據(ju),并(bing)以趨勢(shi)圖(tu)表述。可(ke)為生產過程控制提供直觀數據(ju)。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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